Schutz technologischer Innovation und Risikomanagement geistiger Eigentumsrechte

Voraussetzung für den kontinuierlichen Ausbau der Photovoltaik und den nachhaltigen Aufbau von Fertigungskapazitäten für Solarzellen und Modulen sind eine stetige technologische Weiterentwicklung sowie ein funktionierender Wettbewerb auf den internationalen Märkten. Es hat sich gezeigt, dass technologische Alleinstellungsmerkmale nicht nachhaltig die Wettbewerbsfähigkeit erhöhen, wenn sie nicht auch durch einen wirkungsvollen Patentschutz begleitet werden: Erfindungen in Solarzellen können leicht kopiert werden, Schutzrechtsverletzungen sind aber nicht ohne weiteres erkennbar. Die aktuellen Marktaktivitäten der Hersteller berücksichtigen zunehmend die juristisch-technologische Absicherung von »intellectual property« (IP) für bestehende und zukünftige Solarzelltechnologien (PERC, TOPCon, multi junction-Solarzellen, Perowskit-Tandems). Die Verfügbarkeit von praxisrelevanten (quantitativ, schnell, zuverlässig) und juristisch belastbaren materialanalytischen Methoden zur Bewertung von Schutzrechtsverletzungen ist daher von großem Interesse für die PV-Industrie und Voraussetzung für eine nachhaltige industrielle Verwertung von Ergebnissen aus aktuellen und zukünftigen Forschungsprojekten. Dies betrifft fertige Solarmodule auf internationalen Märkten, die Verwendung von Solarzellen und Halbzeugen entlang der Wertschöpfungskette sowie die Absicherung zukünftiger Patente in der Vorausentwicklung.

Im Rahmen des vorliegenden Projekts sollen (1) neue präparative Verfahren und (2) analytische Techniken für die hochauflösende Material- und Dünnschichtcharakterisierung für »next generation«-Solarzelltechnologien mit einem Fokus auf den Grenzflächen entwickelt werden. Angestrebt werden beispielsweise innovative Verfahren zur großflächigen Präparation und hochauflösenden Charakterisierung von verkapselten Schichten, zur Lokalisierung von mikroskopischen Strompfaden und zur Bewertung von lokalen Passivierungseigenschaften. Diese Methoden sollen mit vereinfachten und schnellen Messverfahren korreliert und in die routine-taugliche Anwendung gebracht werden.