Fraunhofer-Center für Silizium-Photovoltaik CSP
Korrelative Analyse der Rückseite einer bifazialen Solarzelle mit PID Defekten.
Rauheitsbestimmung von Si-Wafern (Psa = 0,583 µm / PSq = 0,749 µm) mittels Laserscanningmikroskopie.
Analyse transparenter Schichten: 3D-Rekonstruktion einer Luftblase innerhalb eines transparenten Mehrschicht-Systems mittels Laserscanningmikroskopie.
Die Oberflächen- und Grenzflächeneigenschaften eines Materials - ob separat oder im Mehrlagenverbund - beeinflussen je nach Anwendung maßgeblich dessen Funktionseigenschaften bzw. unterstützen diese. So ist neben der reinen chemischen Zusammensetzung einer Schicht beispielsweise auch ihre Struktur bzw. Topografie entscheidend.
Wir analysieren und bewerten für unsere Kunden Oberflächeneigenschaften wie Topografie, Benetzbarkeit, optische und lokale chemische Eigenschaften. Dabei können wir verschiedene analytische Methoden bei Bedarf auch korrelativ einsetzen.